ANALYSEINSTRUMENTE ZUR UNTERST\u00dcTZUNG DER FORSCHUNG<\/p>\n<\/div>
Mehrwert schaffen<\/h1><\/div>Wie wir arbeiten<\/span><\/a><\/div><\/div><\/div><\/div><\/div><\/span><\/a><\/span><\/i>ERKUNDEN SIE UNSERE PRODUKTE<\/p>\n<\/div><\/div><\/div><\/span><\/a><\/span><\/i>ERKUNDEN SIE UNSERE SERVICES<\/p>\n<\/div><\/div><\/div><\/span><\/a><\/span><\/i>ERKUNDEN SIE UNSERE AKTIVIT\u00c4TEN<\/p>\n<\/div><\/div><\/div><\/div><\/div>![](\"https:\/\/www.phi-gmbh.eu\/wp-content\/uploads\/2022\/12\/GF_sw_Filter-gold.jpg\" "\\"GF_sw_Filter-gold\\"")
<\/span><\/div><\/div><\/div>25+ JAHRE ERFAHRUNG<\/strong><\/p>\n<\/div>Vertrauensvolle Partnerschaft<\/h2><\/div>Der Startschuss f\u00fcr die Physical Electronics GmbH in ihrer heutigen Form fiel im Jahr 2004. Unsere Geschichte reicht jedoch bis zu den Anf\u00e4ngen der Oberfl\u00e4chenanalytik Anfang der 70er Jahre zur\u00fcck. Seit dieser Zeit steht der Mehrwert f\u00fcr unsere Kunden im Vordergrund.<\/p>\n
Vertrauen ist das Fundament unserer Unternehmenskultur und auch jeder langfristigen Gesch\u00e4ftsbeziehung. Seit vielen Jahren sind wir als Dienstleister in Deutschland, \u00d6sterreich und der Schweiz t\u00e4tig und betreuen Kunden aus allen Bereichen der Forschung und Industrie. Mit vielen dieser Kunden verbindet uns eine jahrzehntelange Gesch\u00e4ftsbeziehung. Diese Basis wollen wir weiter st\u00e4rken und arbeiten kontinuierlich daran, uns zu verbessern. Das Feedback unserer Partner und Kunden ist uns wichtig und wir reflektieren regelm\u00e4\u00dfig, ob wir den Anspr\u00fcchen unserer Partner, Kunden und uns selbst gerecht werden.<\/p>\n
Unsere Strukturen sind schlank und auf Effektivit\u00e4t und Effizienz optimiert. Dadurch reagieren wir schnell auf Trends und M\u00e4rkte. Unsere Abteilungen sind eng miteinander verzahnt und erm\u00f6glichen uns einen umfassenden Blick auf Kundenbed\u00fcrfnisse und Marktentwicklungen.\u00a0 Wir schauen in die Zukunft, ohne die Vergangenheit zu vergessen.<\/p>\n<\/div>
<\/div><\/i> ERFAHREN SIE MEHR \u00dcBER UNS<\/strong><\/a><\/p>\n<\/div><\/div><\/div><\/div><\/div><\/div><\/div><\/div><\/div><\/div><\/div><\/div>CHARAKTERISIERUNG VON OBERFL\u00c4CHEN<\/strong><\/p>\n<\/div>Oberfl\u00e4chen Analyse<\/h2><\/div>Oberfl\u00e4chen, Schichtsysteme und ihre Grenzfl\u00e4chen verstehen<\/p>\n<\/div>
- <\/i><\/span>\n
Photoelektronen-Spektroskopie XPS<\/a><\/p>\n<\/div><\/li>- <\/i><\/span>\n
Flugzeit-Massenspektrometrie TOF-SIMS<\/a><\/p>\n<\/div><\/li>- <\/i><\/span>\n
Auger-Elektronen-Spektroskopie AES<\/a><\/p>\n<\/div><\/li><\/ul><\/i>Details zur Methode<\/span><\/a><\/div><\/div><\/div>Zerst\u00f6rungsfreie Charakterisierung von Bauteilen<\/strong><\/p>\n<\/div>3D-Computer-Tomographie<\/h2><\/div>Zerst\u00f6rungsfreier Blick in komplexe Bauteile. Messung verborgener Strukturen und Bestimmung der Porosit\u00e4t.<\/p>\n<\/div>
- <\/i><\/span>\n
Stand alone Systeme<\/a><\/p>\n<\/div><\/li>- <\/i><\/span>\n
Benchtop Systeme<\/a><\/p>\n<\/div><\/li><\/ul><\/i>Details zur Methode<\/span><\/a><\/div><\/div><\/div>Oberfl\u00e4chen messen<\/strong><\/p>\n<\/div><\/div>Rasterkraft-Mikroskopie<\/h2><\/div>Nanometergenaue Abbildung der Oberfl\u00e4che<\/p>\n<\/div>
- <\/i><\/span>\n
Stand alone Systeme<\/a><\/p>\n<\/div><\/li><\/ul><\/i>Details zur Methode<\/span><\/a><\/div><\/div><\/div>![\"A](\"https:\/\/www.phi-gmbh.eu\/wp-content\/uploads\/2022\/07\/Kachel-1.jpg\" "\\"Kachel-1\\"")
<\/span><\/div><\/div><\/div>![\"A](\"https:\/\/www.phi-gmbh.eu\/wp-content\/uploads\/2022\/07\/Kachel-2.jpg\" "\\"Kachel-2\\"")
<\/span><\/div><\/div><\/div>![\"Metallic](\"https:\/\/www.phi-gmbh.eu\/wp-content\/uploads\/2022\/07\/Kachel-3.jpg\" "\\"Kachel-3\\"")
<\/span><\/div><\/div><\/div><\/div><\/div>BILDGEBENDE VERFAHREN<\/strong><\/p>\n<\/div><\/div>Elektronen-Mikroskopie<\/h2><\/div>Hochaufl\u00f6sende bildgebende Instrumente<\/p>\n<\/div>
- <\/i><\/span>\n
Niederspannungs-Transmissions-Elektronenmikroskopie<\/a><\/p>\n<\/div><\/li><\/ul><\/i>Details zur Methode<\/span><\/a><\/div><\/div><\/div>SPEKTROSKOPIE UND
\nCHROMATOGRAPHIE<\/strong><\/p>\n<\/div>Instrumentelle Analyse<\/h2><\/div>Verstehen der chemischen Material-Zusammensetzung<\/p>\n<\/div>
<\/i>ERKUNDEN SIE UNSERE PRODUKTE<\/p>\n<\/div><\/div><\/div> <\/i>ERKUNDEN SIE UNSERE SERVICES<\/p>\n<\/div><\/div><\/div> <\/i>ERKUNDEN SIE UNSERE AKTIVIT\u00c4TEN<\/p>\n<\/div><\/div><\/div><\/div><\/div> 25+ JAHRE ERFAHRUNG<\/strong><\/p>\n<\/div> Der Startschuss f\u00fcr die Physical Electronics GmbH in ihrer heutigen Form fiel im Jahr 2004. Unsere Geschichte reicht jedoch bis zu den Anf\u00e4ngen der Oberfl\u00e4chenanalytik Anfang der 70er Jahre zur\u00fcck. Seit dieser Zeit steht der Mehrwert f\u00fcr unsere Kunden im Vordergrund.<\/p>\n Vertrauen ist das Fundament unserer Unternehmenskultur und auch jeder langfristigen Gesch\u00e4ftsbeziehung. Seit vielen Jahren sind wir als Dienstleister in Deutschland, \u00d6sterreich und der Schweiz t\u00e4tig und betreuen Kunden aus allen Bereichen der Forschung und Industrie. Mit vielen dieser Kunden verbindet uns eine jahrzehntelange Gesch\u00e4ftsbeziehung. Diese Basis wollen wir weiter st\u00e4rken und arbeiten kontinuierlich daran, uns zu verbessern. Das Feedback unserer Partner und Kunden ist uns wichtig und wir reflektieren regelm\u00e4\u00dfig, ob wir den Anspr\u00fcchen unserer Partner, Kunden und uns selbst gerecht werden.<\/p>\n Unsere Strukturen sind schlank und auf Effektivit\u00e4t und Effizienz optimiert. Dadurch reagieren wir schnell auf Trends und M\u00e4rkte. Unsere Abteilungen sind eng miteinander verzahnt und erm\u00f6glichen uns einen umfassenden Blick auf Kundenbed\u00fcrfnisse und Marktentwicklungen.\u00a0 Wir schauen in die Zukunft, ohne die Vergangenheit zu vergessen.<\/p>\n<\/div> <\/i> ERFAHREN SIE MEHR \u00dcBER UNS<\/strong><\/a><\/p>\n<\/div><\/div><\/div><\/div><\/div> CHARAKTERISIERUNG VON OBERFL\u00c4CHEN<\/strong><\/p>\n<\/div> Oberfl\u00e4chen, Schichtsysteme und ihre Grenzfl\u00e4chen verstehen<\/p>\n<\/div> Photoelektronen-Spektroskopie XPS<\/a><\/p>\n<\/div><\/li> Flugzeit-Massenspektrometrie TOF-SIMS<\/a><\/p>\n<\/div><\/li> Auger-Elektronen-Spektroskopie AES<\/a><\/p>\n<\/div><\/li><\/ul> Zerst\u00f6rungsfreie Charakterisierung von Bauteilen<\/strong><\/p>\n<\/div> Zerst\u00f6rungsfreier Blick in komplexe Bauteile. Messung verborgener Strukturen und Bestimmung der Porosit\u00e4t.<\/p>\n<\/div> Stand alone Systeme<\/a><\/p>\n<\/div><\/li> Benchtop Systeme<\/a><\/p>\n<\/div><\/li><\/ul> Oberfl\u00e4chen messen<\/strong><\/p>\n<\/div> Nanometergenaue Abbildung der Oberfl\u00e4che<\/p>\n<\/div> Stand alone Systeme<\/a><\/p>\n<\/div><\/li><\/ul> BILDGEBENDE VERFAHREN<\/strong><\/p>\n<\/div> Hochaufl\u00f6sende bildgebende Instrumente<\/p>\n<\/div> Niederspannungs-Transmissions-Elektronenmikroskopie<\/a><\/p>\n<\/div><\/li><\/ul> SPEKTROSKOPIE UND Verstehen der chemischen Material-Zusammensetzung<\/p>\n<\/div><\/span><\/div><\/div><\/div>Vertrauensvolle Partnerschaft<\/h2><\/div>
Oberfl\u00e4chen Analyse<\/h2><\/div>
3D-Computer-Tomographie<\/h2><\/div>
Rasterkraft-Mikroskopie<\/h2><\/div>
<\/span><\/div><\/div><\/div><\/span><\/div><\/div><\/div><\/span><\/div><\/div><\/div><\/div><\/div>Elektronen-Mikroskopie<\/h2><\/div>
\nCHROMATOGRAPHIE<\/strong><\/p>\n<\/div>Instrumentelle Analyse<\/h2><\/div>
![](\"https:\/\/www.phi-gmbh.eu\/wp-content\/uploads\/2023\/05\/Kachel-4.jpg\" "\\"Kachel-4\\"")
<\/span><\/div><\/div><\/div>![\"chemistry](\"https:\/\/www.phi-gmbh.eu\/wp-content\/uploads\/2022\/07\/Kachel-5.jpg\" "\\"Kachel-5\\"")
<\/span><\/div><\/div><\/div>![\"Two](\"https:\/\/www.phi-gmbh.eu\/wp-content\/uploads\/2022\/07\/Kachel-6.jpg\" "\\"Kachel-6\\"")
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