ICSPI nGauge AFM<\/h5>\n<\/div>3D-Bilder mit Aufl\u00f6sung im Nanobereich<\/h2>\n<\/div><\/div><\/div><\/div><\/div>Das ICSPI nGauge ist ein Tisch-AFM, das auf der patentierten AFM-on-a-Chip-Technologie basiert. Bei diesem AFM sind alle Scanner und Sensoren in einem einzigen 1 x 1 mm2 CMOS-MEMS-Chip integriert, was die Bildgebung im Nanometerbereich einfacher denn je macht.<\/p>\n
Die Rasterkraftmikroskopie (AFM) ist eine der am h\u00e4ufigsten verwendeten Techniken in der Oberfl\u00e4chenforschung, um die Topographie, die Oberfl\u00e4chenrauheit und die Dicke von Beschichtungen auf verschiedenen Substratmaterialien zu untersuchen. Eine sehr scharfe Spitze oder ein Cantilever bewegt sich \u00fcber die Oberfl\u00e4che und liefert H\u00f6hen- und mechanische Informationen im Nanometerbereich. Das nGauge arbeitet im sogenannten Tapping-Modus, der sehr lange Cantilever-Lebensdauern und 1000+ Scans erm\u00f6glicht.<\/p>\n
Mit dem AFM-on-a-Chip Ansatz des ICSPI bieten wir ein ausrichtungsfreies, laserfreies und kosteng\u00fcnstiges AFM-Tool an.<\/p>\n
Das nGauge AFM erm\u00f6glicht einen einfachen Tischaufbau und Plug-and-Play-Betrieb und liefert erste Ergebnisse innerhalb weniger Minuten.<\/p>\n<\/div>
3D-Bilder mit Aufl\u00f6sung im Nanobereich<\/h2>\n<\/div><\/div><\/div><\/div><\/div>Das ICSPI nGauge ist ein Tisch-AFM, das auf der patentierten AFM-on-a-Chip-Technologie basiert. Bei diesem AFM sind alle Scanner und Sensoren in einem einzigen 1 x 1 mm2 CMOS-MEMS-Chip integriert, was die Bildgebung im Nanometerbereich einfacher denn je macht.<\/p>\n
Die Rasterkraftmikroskopie (AFM) ist eine der am h\u00e4ufigsten verwendeten Techniken in der Oberfl\u00e4chenforschung, um die Topographie, die Oberfl\u00e4chenrauheit und die Dicke von Beschichtungen auf verschiedenen Substratmaterialien zu untersuchen. Eine sehr scharfe Spitze oder ein Cantilever bewegt sich \u00fcber die Oberfl\u00e4che und liefert H\u00f6hen- und mechanische Informationen im Nanometerbereich. Das nGauge arbeitet im sogenannten Tapping-Modus, der sehr lange Cantilever-Lebensdauern und 1000+ Scans erm\u00f6glicht.<\/p>\n
Mit dem AFM-on-a-Chip Ansatz des ICSPI bieten wir ein ausrichtungsfreies, laserfreies und kosteng\u00fcnstiges AFM-Tool an.<\/p>\n
Das nGauge AFM erm\u00f6glicht einen einfachen Tischaufbau und Plug-and-Play-Betrieb und liefert erste Ergebnisse innerhalb weniger Minuten.<\/p>\n<\/div>
Das ICSPI nGauge ist ein Tisch-AFM, das auf der patentierten AFM-on-a-Chip-Technologie basiert. Bei diesem AFM sind alle Scanner und Sensoren in einem einzigen 1 x 1 mm2 CMOS-MEMS-Chip integriert, was die Bildgebung im Nanometerbereich einfacher denn je macht.<\/p>\n
Die Rasterkraftmikroskopie (AFM) ist eine der am h\u00e4ufigsten verwendeten Techniken in der Oberfl\u00e4chenforschung, um die Topographie, die Oberfl\u00e4chenrauheit und die Dicke von Beschichtungen auf verschiedenen Substratmaterialien zu untersuchen. Eine sehr scharfe Spitze oder ein Cantilever bewegt sich \u00fcber die Oberfl\u00e4che und liefert H\u00f6hen- und mechanische Informationen im Nanometerbereich. Das nGauge arbeitet im sogenannten Tapping-Modus, der sehr lange Cantilever-Lebensdauern und 1000+ Scans erm\u00f6glicht.<\/p>\n
Mit dem AFM-on-a-Chip Ansatz des ICSPI bieten wir ein ausrichtungsfreies, laserfreies und kosteng\u00fcnstiges AFM-Tool an.<\/p>\n
Das nGauge AFM erm\u00f6glicht einen einfachen Tischaufbau und Plug-and-Play-Betrieb und liefert erste Ergebnisse innerhalb weniger Minuten.<\/p>\n<\/div>
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