PHI 710 Scanning Auger Nanoprobe<\/h5>\n<\/div>Ein scannendes Auger-Instrument, optimiert f\u00fcr die chemische Bildgebung mit hoher Vergr\u00f6\u00dferung<\/h2>\n<\/div><\/div><\/div><\/div><\/div>Das PHI 710 Scanning Auger Nanoprobe ist ein einzigartiges Hochleistungsger\u00e4t f\u00fcr die Auger-Elektronenspektroskopie (AES), welches Informationen \u00fcber den elementaren und chemischen Zustand von Probenoberfl\u00e4chen und nanoskaligen Merkmalen, d\u00fcnnen Schichten und Grenzfl\u00e4chen liefert. Das PHI 710 ist als Hochleistungs-Auger konzipiert und bietet die \u00fcberlegene Auger-Abbildungsleistung, r\u00e4umliche Aufl\u00f6sung, Empfindlichkeit und spektrale Energieaufl\u00f6sung, die Sie f\u00fcr Ihre anspruchsvollsten AES-Anwendungen ben\u00f6tigen.<\/p>\n
Die Auger-Elektronenspektroskopie (AES) liefert quantitative Informationen \u00fcber den elementaren und chemischen Zustand von Oberfl\u00e4chen fester Materialien. Die durchschnittliche Analysetiefe einer AES-Messung betr\u00e4gt etwa 5 nm. Physikalische Elektronik-Auger-Instrumente bieten die M\u00f6glichkeit, Spektren mit einer lateralen r\u00e4umlichen Aufl\u00f6sung von nur 8 nm zu erhalten. Die Informationen \u00fcber die r\u00e4umliche Verteilung werden durch Scannen des mikrofokussierten Elektronenstrahls \u00fcber die Probenoberfl\u00e4che gewonnen. Informationen \u00fcber die Tiefenverteilung erh\u00e4lt man durch die Kombination von AES-Messungen mit Ionenfr\u00e4sen (Sputtern) zur Charakterisierung einer D\u00fcnnschichtstruktur. Die Informationen, die AES \u00fcber Oberfl\u00e4chenschichten oder D\u00fcnnfilmstrukturen liefert, sind f\u00fcr viele Industrie- und Forschungsanwendungen wichtig, bei denen die Oberfl\u00e4chen- oder D\u00fcnnfilmzusammensetzung eine entscheidende Rolle f\u00fcr die Leistung spielt, z. B. Nanomaterialien, Photovoltaik, Katalyse, Korrosion, Haftung, Halbleiterbauelemente und -verpackungen, magnetische Medien, Displaytechnologie und D\u00fcnnfilmbeschichtungen f\u00fcr zahlreiche Anwendungen.<\/p>\n
Auger-Daten werden von allen Seiten der Partikel und zwischen den Partikeln mit ebenso hoher Empfindlichkeit gewonnen und liefern Auger-Karten mit aussagekr\u00e4ftigen Informationen \u00fcber die Zusammensetzung.<\/p>\n<\/div>
Ein scannendes Auger-Instrument, optimiert f\u00fcr die chemische Bildgebung mit hoher Vergr\u00f6\u00dferung<\/h2>\n<\/div><\/div><\/div><\/div><\/div>Das PHI 710 Scanning Auger Nanoprobe ist ein einzigartiges Hochleistungsger\u00e4t f\u00fcr die Auger-Elektronenspektroskopie (AES), welches Informationen \u00fcber den elementaren und chemischen Zustand von Probenoberfl\u00e4chen und nanoskaligen Merkmalen, d\u00fcnnen Schichten und Grenzfl\u00e4chen liefert. Das PHI 710 ist als Hochleistungs-Auger konzipiert und bietet die \u00fcberlegene Auger-Abbildungsleistung, r\u00e4umliche Aufl\u00f6sung, Empfindlichkeit und spektrale Energieaufl\u00f6sung, die Sie f\u00fcr Ihre anspruchsvollsten AES-Anwendungen ben\u00f6tigen.<\/p>\n
Die Auger-Elektronenspektroskopie (AES) liefert quantitative Informationen \u00fcber den elementaren und chemischen Zustand von Oberfl\u00e4chen fester Materialien. Die durchschnittliche Analysetiefe einer AES-Messung betr\u00e4gt etwa 5 nm. Physikalische Elektronik-Auger-Instrumente bieten die M\u00f6glichkeit, Spektren mit einer lateralen r\u00e4umlichen Aufl\u00f6sung von nur 8 nm zu erhalten. Die Informationen \u00fcber die r\u00e4umliche Verteilung werden durch Scannen des mikrofokussierten Elektronenstrahls \u00fcber die Probenoberfl\u00e4che gewonnen. Informationen \u00fcber die Tiefenverteilung erh\u00e4lt man durch die Kombination von AES-Messungen mit Ionenfr\u00e4sen (Sputtern) zur Charakterisierung einer D\u00fcnnschichtstruktur. Die Informationen, die AES \u00fcber Oberfl\u00e4chenschichten oder D\u00fcnnfilmstrukturen liefert, sind f\u00fcr viele Industrie- und Forschungsanwendungen wichtig, bei denen die Oberfl\u00e4chen- oder D\u00fcnnfilmzusammensetzung eine entscheidende Rolle f\u00fcr die Leistung spielt, z. B. Nanomaterialien, Photovoltaik, Katalyse, Korrosion, Haftung, Halbleiterbauelemente und -verpackungen, magnetische Medien, Displaytechnologie und D\u00fcnnfilmbeschichtungen f\u00fcr zahlreiche Anwendungen.<\/p>\n
Auger-Daten werden von allen Seiten der Partikel und zwischen den Partikeln mit ebenso hoher Empfindlichkeit gewonnen und liefern Auger-Karten mit aussagekr\u00e4ftigen Informationen \u00fcber die Zusammensetzung.<\/p>\n<\/div>
Das PHI 710 Scanning Auger Nanoprobe ist ein einzigartiges Hochleistungsger\u00e4t f\u00fcr die Auger-Elektronenspektroskopie (AES), welches Informationen \u00fcber den elementaren und chemischen Zustand von Probenoberfl\u00e4chen und nanoskaligen Merkmalen, d\u00fcnnen Schichten und Grenzfl\u00e4chen liefert. Das PHI 710 ist als Hochleistungs-Auger konzipiert und bietet die \u00fcberlegene Auger-Abbildungsleistung, r\u00e4umliche Aufl\u00f6sung, Empfindlichkeit und spektrale Energieaufl\u00f6sung, die Sie f\u00fcr Ihre anspruchsvollsten AES-Anwendungen ben\u00f6tigen.<\/p>\n
Die Auger-Elektronenspektroskopie (AES) liefert quantitative Informationen \u00fcber den elementaren und chemischen Zustand von Oberfl\u00e4chen fester Materialien. Die durchschnittliche Analysetiefe einer AES-Messung betr\u00e4gt etwa 5 nm. Physikalische Elektronik-Auger-Instrumente bieten die M\u00f6glichkeit, Spektren mit einer lateralen r\u00e4umlichen Aufl\u00f6sung von nur 8 nm zu erhalten. Die Informationen \u00fcber die r\u00e4umliche Verteilung werden durch Scannen des mikrofokussierten Elektronenstrahls \u00fcber die Probenoberfl\u00e4che gewonnen. Informationen \u00fcber die Tiefenverteilung erh\u00e4lt man durch die Kombination von AES-Messungen mit Ionenfr\u00e4sen (Sputtern) zur Charakterisierung einer D\u00fcnnschichtstruktur. Die Informationen, die AES \u00fcber Oberfl\u00e4chenschichten oder D\u00fcnnfilmstrukturen liefert, sind f\u00fcr viele Industrie- und Forschungsanwendungen wichtig, bei denen die Oberfl\u00e4chen- oder D\u00fcnnfilmzusammensetzung eine entscheidende Rolle f\u00fcr die Leistung spielt, z. B. Nanomaterialien, Photovoltaik, Katalyse, Korrosion, Haftung, Halbleiterbauelemente und -verpackungen, magnetische Medien, Displaytechnologie und D\u00fcnnfilmbeschichtungen f\u00fcr zahlreiche Anwendungen.<\/p>\n
Auger-Daten werden von allen Seiten der Partikel und zwischen den Partikeln mit ebenso hoher Empfindlichkeit gewonnen und liefern Auger-Karten mit aussagekr\u00e4ftigen Informationen \u00fcber die Zusammensetzung.<\/p>\n<\/div>
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