PHI nanoTOF 3<\/h5>\n<\/div>TOF-SIMS und patentiertes Parallel-Imaging MS\/MS<\/h2>\n<\/div><\/div><\/div><\/div><\/div>Das nanoTOF 3 ist die neueste TOF-SIMS Anlage von PHI. Das patentierte parallele Imaging MS\/MS und der TRIFT Analyzer, zwei Hauptmerkmale, erm\u00f6glichen TOF-SIMS Messungen auf stark topografischen Oberfl\u00e4chen, eine hohe Massengenauigkeit, eine hohe Massenaufl\u00f6sung und eine eindeutige Peak-Identifizierung mit parallelem Tandem-MS-Imaging.<\/p>\n
F\u00fcr die Anlage stehen zahlreiche Optionen zur Verf\u00fcgung. Sie kann dadurch f\u00fcr die verschiedensten Anwendungen auf organischen und anorganischen Materialen optimiert werden.<\/p>\n
\u00dcber TOF-SIMS:<\/p>\n
Die Flugzeit-Sekund\u00e4rionen-Massenspektrometrie (TOF-SIMS) liefert elementare, chemische Zustands- und molekulare Informationen von Oberfl\u00e4chen fester Materialien. Die durchschnittliche Analysetiefe bei einer TOF-SIMS-Messung betr\u00e4gt etwa 1 nm.<\/p>\n<\/div>
TOF-SIMS und patentiertes Parallel-Imaging MS\/MS<\/h2>\n<\/div><\/div><\/div><\/div><\/div>Das nanoTOF 3 ist die neueste TOF-SIMS Anlage von PHI. Das patentierte parallele Imaging MS\/MS und der TRIFT Analyzer, zwei Hauptmerkmale, erm\u00f6glichen TOF-SIMS Messungen auf stark topografischen Oberfl\u00e4chen, eine hohe Massengenauigkeit, eine hohe Massenaufl\u00f6sung und eine eindeutige Peak-Identifizierung mit parallelem Tandem-MS-Imaging.<\/p>\n
F\u00fcr die Anlage stehen zahlreiche Optionen zur Verf\u00fcgung. Sie kann dadurch f\u00fcr die verschiedensten Anwendungen auf organischen und anorganischen Materialen optimiert werden.<\/p>\n
\u00dcber TOF-SIMS:<\/p>\n
Die Flugzeit-Sekund\u00e4rionen-Massenspektrometrie (TOF-SIMS) liefert elementare, chemische Zustands- und molekulare Informationen von Oberfl\u00e4chen fester Materialien. Die durchschnittliche Analysetiefe bei einer TOF-SIMS-Messung betr\u00e4gt etwa 1 nm.<\/p>\n<\/div>
Das nanoTOF 3 ist die neueste TOF-SIMS Anlage von PHI. Das patentierte parallele Imaging MS\/MS und der TRIFT Analyzer, zwei Hauptmerkmale, erm\u00f6glichen TOF-SIMS Messungen auf stark topografischen Oberfl\u00e4chen, eine hohe Massengenauigkeit, eine hohe Massenaufl\u00f6sung und eine eindeutige Peak-Identifizierung mit parallelem Tandem-MS-Imaging.<\/p>\n
F\u00fcr die Anlage stehen zahlreiche Optionen zur Verf\u00fcgung. Sie kann dadurch f\u00fcr die verschiedensten Anwendungen auf organischen und anorganischen Materialen optimiert werden.<\/p>\n
\u00dcber TOF-SIMS:<\/p>\n
Die Flugzeit-Sekund\u00e4rionen-Massenspektrometrie (TOF-SIMS) liefert elementare, chemische Zustands- und molekulare Informationen von Oberfl\u00e4chen fester Materialien. Die durchschnittliche Analysetiefe bei einer TOF-SIMS-Messung betr\u00e4gt etwa 1 nm.<\/p>\n<\/div>
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