{"id":8648,"date":"2023-08-02T13:03:44","date_gmt":"2023-08-02T11:03:44","guid":{"rendered":"https:\/\/www.phi-gmbh.eu\/failure-analysis-of-bipolar-junction-transistors-bjts\/"},"modified":"2025-10-13T10:02:56","modified_gmt":"2025-10-13T08:02:56","slug":"fehleranalyse-von-bipolartransistoren","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.phi-gmbh.eu\/de\/fehleranalyse-von-bipolartransistoren\/","title":{"rendered":"Halbleiterindustrie: Fehleranalyse von Bipolartransistoren (BJTs)"},"content":{"rendered":"

AFM-in-SEM-Methode zur Fehleranalyse von Bipolartransistoren (BJTs)<\/h2>\n<\/div>
Durchf\u00fchren einer professionellen Fehleranalyse<\/h5>\n<\/div>
<\/div><\/div><\/div><\/div><\/div><\/div>
<\/span><\/div><\/div><\/div>

Sie sind in der Halbleiterindustrie t\u00e4tig und m\u00f6chten die Ursachen f\u00fcr Fehlfunktionen oder Ausf\u00e4lle von Bipolartransistoren verstehen?<\/p>\n

Mit dem AFM-in-SEM Ansatz zur Fehleranalyse verbessern Sie Ihre Produktqualit\u00e4t und optimieren Ihre Prozesse.<\/p>\n<\/div>

Fragen Sie unsere Experten<\/span><\/a><\/div><\/div><\/div><\/div><\/div>

F\u00fchren Sie Fehleranalysen mit dem AFM-Tool LiteScope von NenoVision durch, das einfach in Ihr REM integriert werden kann. Dieses Werkzeug liefert genaue und zuverl\u00e4ssige Ergebnisse und stellt sicher, dass Ihre Analyse von h\u00f6chster Qualit\u00e4t ist.<\/p>\n<\/div>

Entdecken Sie das LiteScope<\/span><\/a><\/div><\/div><\/div><\/div><\/div>

Ihre Vorteile bei der Fehleranalyse mit LiteScope<\/p><\/h2><\/div><\/div><\/div>