Exclusive NenoVision Workshop at IKTS Dresden
11 September 2025 Fraunhofer Institute for Ceramic Technologies and Systems IKTS, Dresden, Germany
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Treffen Sie uns auf der Konferenz "Applied Surface and Solid State Analysis" - 30. Juni - 02. Juli, 2025
Die TOF-SIMS-Tandem-MS-Bildgebung bietet 3D-Einblicke auf Sub-Nanometer-Ebene - für bessere Prozesse und zuverlässigere Chips.
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NAND-Fehleranalyse mit In-situ-Verzögerung und C-AFM-Messung
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Sie möchten die Grundlagen und Anwendungen der Harten Röntgenphotoelektronenspektroskopie (HAXPES) kennenlernen?
Besuchen Sie diesen Workshop ...
Wer denkt, dass die hochauflösende Bildgebung biologischer Dünnschnitte ein Hochspannungs-TEM erfordert, der irrt! ...
Durchleuchtet bis ins Detail: Wie die Computertomographie das Geheimnis des Perlboots lüftet
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03. Juni 2025 - 9 bis 16:30 Uhr
Schwerpunkt: Oberflächenanalyse
Treffen Sie uns an der Swiss NanoConvention - 12.-13. Juni 2025
Treffen Sie uns auf der MC25 in Karlsruhe, Deutschland - 31. August - 4. September 2025