Oberflächenanalyse – Physical Electronics

3D-Computertomographie – Benchtop Systeme – Neoscan

3D-Computertomographie – Stand Alone Systeme – RX Solutions

Rasterkraftmikroskopie – Stand alone Systeme – ICSPI

Rasterkraftmikroskopie – REM Erweiterung – Nenovision

Elektronenmikroskopie – Niederspannungs-Transmissionselektronenmikroskopie – Delong Instruments

Instrumentelle Analyse – Raman Spektroskopie – Timegate

Instrumentelle Analyse – LIBS – Lightigo