NEUESTE NACHRICHTEN ÜBER PRODUKTE UND FALLSTUDIEN
Aktuelle Artikel
Hier erhalten Sie einen tieferen Einblick in unsere Techniken und Anwendungen. Wir bereiten Fallstudien, Kundenberichte und Präsentationen für Sie auf und informieren Sie über Neuigkeiten und Veranstaltungen. Bleiben Sie auf dem Laufenden!
Exklusiver Auger-Anwenderworkshop an der TU Wien
16. Oktober 2025 AIC (Analytical Instrumentation Centre) an der TU Wien, Österreich
Exklusiver NenoVision-Workshop am IKTS Dresden
11. September 2025 Fraunhofer-Institut für Keramische Technologien und Systeme IKTS, Dresden, Deutschland
Treffen Sie uns hier – AOFKA2025
Treffen Sie uns auf der Konferenz "Applied Surface and Solid State Analysis" - 30. Juni - 02. Juli, 2025
Subnanometergenauigkeit für die Chipindustrie: TOF-SIMS im Fokus
Die TOF-SIMS-Tandem-MS-Bildgebung bietet 3D-Einblicke auf Sub-Nanometer-Ebene - für bessere Prozesse und zuverlässigere Chips.
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Effiziente NAND-Analyse mit AFM-in-SEM
NAND-Fehleranalyse mit In-situ-Verzögerung und C-AFM-Messung
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HAXPES WORKSHOP Empa Akademie
Sie möchten die Grundlagen und Anwendungen der Harten Röntgenphotoelektronenspektroskopie (HAXPES) kennenlernen?
Besuchen Sie diesen Workshop ...
Niederspannungs-Elektronenmikroskopie für die Abbildung biologischer Dünnschnitte
Wer denkt, dass die hochauflösende Bildgebung biologischer Dünnschnitte ein Hochspannungs-TEM erfordert, der irrt! ...
Faszinierende Einblicke dank modernster CT-Technologie
Durchleuchtet bis ins Detail: Wie die Computertomographie das Geheimnis des Perlboots lüftet
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NanoX-Pert Seminar 03. Juni 2025
03. Juni 2025 - 9 bis 16:30 Uhr
Schwerpunkt: Oberflächenanalyse
Treffen Sie uns hier – Swiss NanoConvention
Treffen Sie uns an der Swiss NanoConvention - 12.-13. Juni 2025
